蓝景科技 电感耦合等离子体发射光谱仪的抗干扰与背景校正能力

复杂基质中的光谱重叠、基体效应和背景漂移是ICP-OES定量误差的主要来源。蓝景科技ICP-OES通过多维干扰校正策略与实时背景扣除技术，构建了从硬件到软件的全链路抗干扰体系。

在硬件层面，高分辨率光栅（最高4320线/mm） 提供0.004 nm光学分辨率，有效分离相邻谱线。例如，V 292.402 nm与Fe 292.398 nm间距仅0.004 nm，普通仪器难以分辨，而该设备可清晰分离，避免铁对钒的正干扰。

在软件层面，系统集成多种校正算法：

• 标准加入法：适用于强基体效应样品（如生物组织、土壤提取液）；

• 内标法（Sc、Y、In等）：补偿进样波动与等离子体漂移；

• 归一系数法：用于合金成分快速半定量；

• 实时背景双点/三点扣除：在目标谱线两侧自动选取无干扰点拟合背景曲线，消除连续背景或宽带分子带干扰。

尤为突出的是全谱同步采集能力。每次测量记录完整光谱（165–850 nm），用户可在事后回溯查看任意波长区域，评估潜在干扰。例如，在分析含高浓度Ca的奶粉样品时，发现Sr 460.733 nm受Ca 460.729 nm轻微重叠，软件自动启用邻近无干扰线Sr 407.771 nm进行复核，确保结果准确。

某第三方检测机构在参与能力验证时，面对含高盐高钙的模拟废水，凭借该系统的抗干扰能力，所有上报数据Z值均在±1以内，一次性通过CNAS审核。这证明其不仅“能测"，更能“测准"。